產(chǎn)品詳情

Vrwm (V) 18 Bi-/uni-directional Uni-Directional Package name SOD323 Peak pulse power (8/20 μs) (max) (W) 300 IEC 61000-4-5 (A) 15 Breakdown voltage (min) (V) 18.3 Number of channels 1 IO capacitance (typ) (pF) 12 Clamping voltage (V) 31
Vrwm (V) 18 Bi-/uni-directional Uni-Directional Package name SOD323 Peak pulse power (8/20 μs) (max) (W) 300 IEC 61000-4-5 (A) 15 Breakdown voltage (min) (V) 18.3 Number of channels 1 IO capacitance (typ) (pF) 12 Clamping voltage (V) 31
SOT (DYF) 2 3.445 mm2 2.65 x 1.3
  • ISO 10605(330pF,330Ω)ESD 保護(hù):
    • ±30kV 接觸放電
    • ±30kV 空氣間隙放電
  • IEC 61000-4-5 浪涌保護(hù):
    • 7-60A (8/20μs)
  • IO 電容 < 20pF
  • 超低漏電流:50nA(最大值)
  • 工業(yè)溫度范圍:-55°C 至 +150°C
  • 符合 AEC-Q101 標(biāo)準(zhǔn)
  • 業(yè)界通用 SOD-323 引線式封裝 (2.65mm × 1.3mm)
  • ISO 10605(330pF,330Ω)ESD 保護(hù):
    • ±30kV 接觸放電
    • ±30kV 空氣間隙放電
  • IEC 61000-4-5 浪涌保護(hù):
    • 7-60A (8/20μs)
  • IO 電容 < 20pF
  • 超低漏電流:50nA(最大值)
  • 工業(yè)溫度范圍:-55°C 至 +150°C
  • 符合 AEC-Q101 標(biāo)準(zhǔn)
  • 業(yè)界通用 SOD-323 引線式封裝 (2.65mm × 1.3mm)

TSDxx-Q1 是單向 TVS 保護(hù)二極管系列,專為鉗制 ESD 和浪涌等有害瞬變而設(shè)計(jì)。TSDxx-Q1 的額定 ESD 沖擊消散值高達(dá) ±30kV(接觸放電和空氣間隙放電),并且符合 IEC 61000-4-2 國際標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的最高級(jí)別(4 級(jí))。

TSDxx-Q1 結(jié)合了此類器件的強(qiáng)大鉗位性能和低電容,是一款出色的 TVS 二極管,可在許多不同應(yīng)用中保護(hù)數(shù)據(jù)線路和電源線路。

TSDxx-Q1 采用業(yè)界通用的引線式 SOD-323 封裝,可輕松焊接。

TSDxx-Q1 是單向 TVS 保護(hù)二極管系列,專為鉗制 ESD 和浪涌等有害瞬變而設(shè)計(jì)。TSDxx-Q1 的額定 ESD 沖擊消散值高達(dá) ±30kV(接觸放電和空氣間隙放電),并且符合 IEC 61000-4-2 國際標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的最高級(jí)別(4 級(jí))。

TSDxx-Q1 結(jié)合了此類器件的強(qiáng)大鉗位性能和低電容,是一款出色的 TVS 二極管,可在許多不同應(yīng)用中保護(hù)數(shù)據(jù)線路和電源線路。

TSDxx-Q1 采用業(yè)界通用的引線式 SOD-323 封裝,可輕松焊接。

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類型 標(biāo)題 下載最新的英語版本 日期
* 數(shù)據(jù)表 TSDxx-Q1 適用于汽車應(yīng)用并采用 SOD-323 封裝的單向 TVS 二極管 數(shù)據(jù)表 PDF | HTML 英語版 PDF | HTML 2025年 7月 14日

設(shè)計(jì)和開發(fā)

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評(píng)估板

ESDEVM — 適用于 ESD 二極管封裝(包括 0402、0201 等)的通用評(píng)估模塊

靜電敏感器件 (ESD) 評(píng)估模塊 (EVM) 是用于 TI 大部分 ESD 產(chǎn)品系列的開發(fā)平臺(tái)。為了測(cè)試任何型號(hào)的器件,該電路板支持所有傳統(tǒng)的 ESD 封裝結(jié)構(gòu)。器件可以焊接到相應(yīng)封裝結(jié)構(gòu),然后進(jìn)行測(cè)試。如果是典型的高速 ESD 二極管,則應(yīng)采用阻抗受控布局來獲取 S 參數(shù)并剝離電路板引線。如果是非高速 ESD 二極管,則應(yīng)采用有布線連接到測(cè)試點(diǎn)的封裝結(jié)構(gòu),以便輕松運(yùn)行直流測(cè)試,例如擊穿電壓、保持電壓、漏電流等。該電路板布局布線還可以通過將信號(hào)引腳短接至信號(hào)所在的位置,輕松地將任何器件引腳連接到電源 (VCC) 或地。
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仿真模型

TSD18-Q1 PSpice Transient Model

SLVMEG0.ZIP (166 KB) - PSpice Model
封裝 引腳 CAD 符號(hào)、封裝和 3D 模型
SOT (DYF) 2 Ultra Librarian

訂購和質(zhì)量

包含信息:
  • RoHS
  • REACH
  • 器件標(biāo)識(shí)
  • 引腳鍍層/焊球材料
  • MSL 等級(jí)/回流焊峰值溫度
  • MTBF/時(shí)基故障估算
  • 材料成分
  • 鑒定摘要
  • 持續(xù)可靠性監(jiān)測(cè)
包含信息:
  • 制造廠地點(diǎn)
  • 封裝廠地點(diǎn)

支持和培訓(xùn)

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