ZHCABK0 March 2022 AMC23C14
設(shè)計(jì)目標(biāo)
過(guò)壓電平 | 欠壓電平 | 低側(cè) VDD | 高側(cè) VDD | 瞬態(tài)響應(yīng)時(shí)間 |
---|---|---|---|---|
28.8 V | 20.4 V | 2.7 V 至 5.5V | 24V | 360ns |
設(shè)計(jì)說(shuō)明
此高速、隔離式欠壓和過(guò)壓檢測(cè)電路通過(guò)具有可調(diào)閾值的雙路隔離式窗口比較器 (AMC23C14) 實(shí)現(xiàn)。此電路專為工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)電源應(yīng)用而設(shè)計(jì),在此類應(yīng)用中,控制器端必須檢測(cè)遠(yuǎn)程模塊電流電壓是否在有效范圍內(nèi)。
之所以選擇 AMC23C14,是因?yàn)樗哂蟹€(wěn)健的增強(qiáng)型隔離、至少 100kV/μs 的高 CMTI、可調(diào)雙通道窗口比較器閾值、寬高側(cè)電源電壓范圍(3V 至 27V)以及擴(kuò)展的工業(yè)溫度范圍(–40°C 至 +125°C)。
設(shè)計(jì)說(shuō)明
設(shè)計(jì)步驟
對(duì)方程組求解會(huì)得到 R5 = 236kΩ、R6 = 3.52kΩ。
設(shè)計(jì)仿真
以下圖像是欠壓和過(guò)壓檢測(cè)電路的 SPICE 仿真波形。所包含的是 VDD1 輸入,其中顯示了齊納二極管保護(hù) VDD1 輸入,防止它因?yàn)殡妷撼龉ぷ麟妷悍秶軗p。欠壓和過(guò)壓檢測(cè)電流的 SPICE 仿真 - 由小變大顯示了輸入電壓由小變大時(shí)輸出觸發(fā)點(diǎn)的 SPICE 仿真。欠壓和過(guò)壓檢測(cè)電流的 SPICE 仿真 - 由大變小顯示了一個(gè)類似圖片,不過(guò)是輸入電壓由大變小時(shí)的輸出觸發(fā)點(diǎn)。通過(guò)比較這兩個(gè)圖像可以看到,觸發(fā)點(diǎn)相差 0.3V,其中電壓輸入由大變小時(shí)具有較低的觸發(fā)器值。
測(cè)得的響應(yīng)
以下圖像顯示了欠壓和過(guò)壓檢測(cè)電路的測(cè)量輸出,并將輸出與 Vsupp 電壓(跡線 1)進(jìn)行了對(duì)比。AMC23C14 具有開(kāi)漏輸出,這些輸出通常會(huì)上拉至 VDD2,并且在輸入電壓超過(guò)每個(gè)比較器的閾值電壓時(shí),會(huì)被驅(qū)動(dòng)至低電平。在這些測(cè)量中,如果 Vsupp 超過(guò) 28.8V,OUT1(跡線 3)會(huì)變?yōu)榈碗娖剑绻?Vsupp 超過(guò) 20.8V,則 OUT2 會(huì)變?yōu)榈碗娖健=M件變化和比較器遲滯可能會(huì)影響跳變閾值,但在本例中,跳變點(diǎn)位于所需值的 1% 范圍內(nèi)。如果 Vsupp 由小變大或由大變小,電壓閾值會(huì)略有不同。第二個(gè)波形顯示了 OUT1 在 28.6V 而非 28.8V 處觸發(fā)時(shí)的情況。
以下圖像顯示了欠壓和過(guò)壓檢測(cè)電路的測(cè)量輸出,并將 AMC23C14 輸出與 VIN 電壓(跡線 2)進(jìn)行了對(duì)比。根據(jù)這些測(cè)量結(jié)果可以確認(rèn),比較器跳變閾值與內(nèi)部比較器閾值在 300mV 時(shí)設(shè)置的所需值以及由外部設(shè)置閾值在 420mV 時(shí)設(shè)置的所需值一致,如設(shè)計(jì)步驟部分步驟 2 中的公式所定義。
設(shè)計(jì)特色器件
器件 | 關(guān)鍵特性 | 器件鏈接 |
---|---|---|
AMC23C14 |
|
器件:AMC23C14 類似器件:隔離式放大器 |
設(shè)計(jì)參考資料
請(qǐng)參閱《模擬工程師電路說(shuō)明書》,了解有關(guān) TI 綜合電路庫(kù)的信息。
德州儀器 (TI),AMC23C14 具有可調(diào)閾值的雙路快速響應(yīng)增強(qiáng)型隔離式窗口比較器 數(shù)據(jù)表