ZHCAE96 July 2024 TPSI2072-Q1 , TPSI2140-Q1 , TPSI3050 , TPSI3050-Q1 , TPSI3052 , TPSI3052-Q1 , TPSI3100 , TPSI3100-Q1
與光電繼電器類似,電容隔離和電感隔離技術(shù)也會受到局部放電的影響。因此,這種現(xiàn)象可以量化為時間依賴型電介質(zhì)擊穿 (TDDB),這是驗(yàn)證任何電介質(zhì)壽命的標(biāo)準(zhǔn)測試方法??梢允占骷系臅r間依賴型電介質(zhì)擊穿 (TDDB) 性能數(shù)據(jù)來表征預(yù)期故障率。
例如,下面是 TPSI3050-Q1 的絕緣壽命預(yù)測數(shù)據(jù)。通過收集在各種高壓等級下的擊穿數(shù)據(jù),下圖顯示了失效時間與 VRMS 之間的關(guān)系。