IT-DZT 算法可改善動(dòng)態(tài)負(fù)載應(yīng)用的電阻估算和剩余容量預(yù)測(cè)。量化剩余容量改善的比較算法是補(bǔ)償式放電終止電壓 (CEDV) 電量監(jiān)測(cè)計(jì)算法。此算法使用新電池估算的 IR 壓降補(bǔ)償來預(yù)測(cè)電池端子電壓達(dá)到放電結(jié)束時(shí)的位置。IT-DZT 算法能夠準(zhǔn)確跟蹤電阻，并保持在小誤差容差范圍內(nèi)。對(duì)于老化的電池，在接近電池放電結(jié)束時(shí)電阻可能會(huì)增加 50% 以上，而 CEDV 電量監(jiān)測(cè)計(jì)會(huì)低估負(fù)載電流引起的壓降。

電量監(jiān)測(cè)算法對(duì)剩余容量預(yù)測(cè)的影響如 圖 6-1 所示。IT-DZT 算法能夠在電池老化時(shí)準(zhǔn)確跟蹤電阻，并具有較小的誤差容差。CEDV 算法顯著低估老化電池的電阻。對(duì)于 圖 6-1 中所示的1C 負(fù)載，IT-DZT 算法可準(zhǔn)確預(yù)測(cè)當(dāng)電池電壓達(dá)到最小 3V 閾值時(shí)的 SOC。CEDV 算法不能準(zhǔn)確預(yù)測(cè)電壓達(dá)到 3V 時(shí)的 SOC。與 IT-DZT 相比，該算法將電池剩余容量的估算值高估 10%。在較高的負(fù)載電流下，IR 壓降更更大，因此 CEDV 中的剩余容量誤差更大。對(duì)于所示的測(cè)試用例，1.75C 平均負(fù)載電流的高估誤差為 60%，如 圖 6-2 所示。

SOC 精度的預(yù)期提高取決于電池老化時(shí)的電池行為，以及放電期間負(fù)載電流的細(xì)節(jié)。對(duì)于某些負(fù)載電流，有頻繁并且較長(zhǎng)的穩(wěn)定負(fù)載電流間隔，因此基于 IT 的電量監(jiān)測(cè)計(jì)算法可以實(shí)現(xiàn)與 IT-DZT 相似的性能。電池使用壽命長(zhǎng)，其電阻增加緩慢。在電池老化到足以使電阻顯著增加之前，IT-DZT 和固定電阻之間剩余容量的估算間隙很小。

與 圖 6-2 中的示例相比，電阻快速增加的電池在動(dòng)態(tài)負(fù)載下 SOC 估計(jì)中的誤差更大。