ZHCU971A November 2020 – February 2022 LP8764-Q1
提供多個(gè)測(cè)試點(diǎn),以獲取電壓和信號(hào)。標(biāo)記有 _S 的測(cè)試點(diǎn)專用于檢測(cè)電壓,不能承載巨大的直流電流。
測(cè)試點(diǎn) | 器件引腳 | 說(shuō)明 |
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TP1 | VCCA_S | VCCA 電壓檢測(cè)點(diǎn)。從靠近 LP8764-Q1 的 VCCA 引腳開(kāi)始布線。 |
TP2、TP4、TP6、TP7、TP8、TP9、TP10 | GND_S | 從各個(gè)位置路由的接地檢測(cè)點(diǎn)。 |
TP3 | VOUT_LDO_S | 用于內(nèi)部 LDO 輸出電壓的電壓檢測(cè)點(diǎn)。 |
TP5 | VIO_S | 從 LP8764-Q1 的 VIO 引腳路由的 VIO 電壓檢測(cè)點(diǎn)。 |
TP11、TP12、TP13、TP14、TP15、TP16 | GND | 實(shí)心接地點(diǎn)。能夠承載較大的直流電流。 |
J14、J16、J17、J19 | FB_B1、FB_B2、FB_B3、FB_B4 | 降壓輸出電壓檢測(cè)點(diǎn)。未使用的次級(jí)降壓 FB 也可作為電壓監(jiān)測(cè)器使用。 |