數(shù)字 X 射線 AFE
適用于醫(yī)療和牙科成像、無損檢測和顯示校準(zhǔn)系統(tǒng)的高度集成式電荷數(shù)字模擬前端 (AFE)
我們適用于 X 射線平板檢測器、電荷檢測和電容測量系統(tǒng)的高通道數(shù) AFE 集成了多達 256 個積分器、可編程增益放大器、相關(guān)雙采樣器和高速電荷數(shù)字模數(shù)轉(zhuǎn)換器 (ADC)。這些產(chǎn)品采用 Chip-On-Flex 封裝或芯片，可提供各種電荷范圍和掃描時間選項，支持設(shè)計人員在靜態(tài)、半動態(tài)、動態(tài)、無損檢測以及醫(yī)療和牙科應(yīng)用中權(quán)衡功耗和性能。
為何選擇我們的數(shù)字 X 射線 AFE？
簡化系統(tǒng)設(shè)計
通過單電源方案和高集成度簡化電路板布局布線并節(jié)省更多空間。
提升系統(tǒng)性能
降低功耗并提升系統(tǒng)幀速率和成像質(zhì)量。
兼容的產(chǎn)品系列可滿足各類市場需求
引腳、封裝和軟件兼容的產(chǎn)品系列提供了一種單一平臺方法，助力客戶滿足各種靜態(tài)、動態(tài)和高電荷范圍應(yīng)用的需求。