ZHCAAJ9B November 2018 – March 2021 SN74AVC4T774 , SN74AXC1T45 , SN74AXC4T245 , SN74AXC4T774 , SN74AXC8T245 , SN74AXC8T245-Q1 , SN74AXCH1T45 , SN74AXCH4T245 , SN74AXCH8T245
2.4 聯(lián)合測試行動(dòng)組 (JTAG)
聯(lián)合測試行動(dòng)組 (JTAG) 開發(fā)了同名的硬件接口 (JTAG)，用于對嵌入式設(shè)計(jì)進(jìn)行調(diào)試、測試、驗(yàn)證和編程。JTAG 在運(yùn)行過程中通常使用五個(gè)線路：TCK、TMS、TDI、TDO 和 TRST，如表 2-2 所示。測試時(shí)鐘 (TCK) 提供數(shù)據(jù)輸入和輸出的時(shí)序。測試模式選擇 (TMS) 允許用戶選擇將要測試的內(nèi)容。測試數(shù)據(jù)輸入 (TDI) 將要測試的數(shù)據(jù)輸入到被測器件，產(chǎn)生的結(jié)果在測試數(shù)據(jù)輸出 (TDO) 上輸出。最后一個(gè)信號(hào)是測試復(fù)位 (TEST)，作為一個(gè)可選信號(hào)，它能夠?qū)?JTAG 復(fù)位到最后一次已知的良好狀態(tài)。
| 信號(hào) | 說明 | 方向 |
|---|---|---|
| TCK | 測試時(shí)鐘信號(hào) | 控制器到調(diào)試器 |
| TDI | 測試數(shù)據(jù)輸入 | 控制器到調(diào)試器 |
| TDO | 測試數(shù)據(jù)輸出 | 調(diào)試器到控制器 |
| TMS | 測試模式選擇 | 控制器到調(diào)試器 |
| TRST | 測試復(fù)位 | 控制器到調(diào)試器 |
JTAG 與 SPI 類似，因此電壓轉(zhuǎn)換器的配置也類似。主要區(qū)別在于 JTAG 有四條線路在一個(gè)方向上運(yùn)行，而另一條線路在相反方向上運(yùn)行。要在低電壓 FPGA 或處理器與 JTAG 探頭之間啟用 JTAG 接口，建議使用 SN74AXC4T774 或 SN74AVC4T774 器件，并采用如圖 2-10 所示的配置?；蛘?，對于五線制 JTAG 接口，可使用一個(gè)用于 TCK、TMS、TDI 和 TRST 信號(hào)線路的 SN74AXC4T245 和一個(gè)用于在另一個(gè)方向上運(yùn)行的 TDO 線路的 SN74AXC1T45。
圖 2-10 使用 SN74AXC4T774 進(jìn)行 JTAG 電壓轉(zhuǎn)換