5 總結(jié)

本應(yīng)用手冊說明了如何使用實際 HTOL 測試數(shù)據(jù)計算 BAW 振蕩器的時基故障率。如上述計算所示，在 35°C 下使用時，BAW 振蕩器時基故障率為 0.3，這對于所有晶體和基于 MEMS 的器件技術(shù)的振蕩器來說都非常出色。時基故障率為 0.3 相當(dāng)于 33 億小時的 MTBF。典型的晶體振蕩器時基故障率為 15 至 30，表示與具有相似規(guī)格的晶體振蕩器相比，BAW 振蕩器的可靠性得到了提高。