ZHCADE7 November 2023 CDCE6214 , CDCE6214-Q1 , CDCE6214Q1TM , LMK00301 , LMK00304 , LMK00306 , LMK00308 , LMK00334 , LMK00334-Q1 , LMK00338 , LMK03318 , LMK03328 , LMK3H0102 , LMK6C , LMK6H , LMKDB1104 , LMKDB1108 , LMKDB1120 , LMKDB1202 , LMKDB1204
為了測量 REFCLK 的性能,可以使用相位噪聲分析儀 (PNA) 來測量抖動的頻域,即相位噪聲??梢詫⑤敵霾季€輸出到文本文件,然后可以通過 PCIe 處理工具進(jìn)行后處理。較新的 PNA(例如本文中使用的 R&S? FWSP)能夠支持 SSC 和非 SSC 相位噪聲數(shù)據(jù)收集,從而允許對展頻時鐘進(jìn)行后處理。圖 5-1 展示了 PNA 測量的測試設(shè)置。表 5-1 列出了 REFCLK 測量中使用的設(shè)備和器件。
低噪聲源 | 受測器件 (DUT) | 平衡-非平衡變壓器 | 測量設(shè)備 |
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R&S? SMA100B Agilent E5052B |
LMK3H0102 LMKDB1120(1) |
Mini-Circuits? ADTL2-18 | R&S? FSWP(2) Agilent DSO80804B(3) |