ZHCAF09E July 1994 – July 2021
隨著速度的提高,邏輯器件對慢速輸入邊沿速率變得更加敏感。較慢的輸入邊沿速率及輸出切換時電源軌上產(chǎn)生的噪聲可能會導致過多的輸出誤差或振蕩。如果未使用的輸入被懸空或未主動保持在有效邏輯電平,則會發(fā)生類似的情況。
這些功能問題是由于在開關期間,輸出負載電流 (IO) 流經(jīng)寄生引線電感時在器件的電源系統(tǒng)中引起的電壓瞬變造成的(見 圖 2-1)。由于器件的內部電源節(jié)點在整個集成電路中用作電壓基準,因此電感電壓尖峰 VGND 會影響信號出現(xiàn)在內部柵極結構中的方式。例如,當器件接地節(jié)點處的電壓上升時,輸入信號 Vi’ 的幅度似乎會降低。如果發(fā)生違反閾值的情況,這種不良現(xiàn)象隨后可能會錯誤地更改輸出。
在輸入邊沿緩慢上升的情況下,如果 GND 的電壓變化足夠大,則器件的視在信號 Vi’ 似乎被驅動回越過閾值,而輸出開始進行反向開關操作。如果出現(xiàn)最壞的情況(所有輸出同時開關并帶有較大的瞬態(tài)負載電流),慢速輸入邊沿會反復驅動回越過閾值,導致輸出振蕩。因此,不應超出器件的最大輸入轉換時間,以免損壞電路或封裝。
如果長時間將一個 0.8V 到 2V 之間的電壓施加到輸入端,這種情況就變得至關重要,不應忽略,尤其是位數(shù)越高且封裝(SSOP、TSSOP)越密集時。例如,如果一個 18 位收發(fā)器有 36 個 I/O 引腳在閾值處懸空,則來自 VCC 的電流可以高達 150 mA 至 200 mA。器件消耗的功率約為 1W,會導致嚴重的過熱問題。器件的這種持續(xù)過熱會影響其可靠性。另外,由于輸入位于閾值區(qū)域,輸出往往會振蕩,長此以往會對內部電路造成損壞。數(shù)據(jù)表顯示了當輸入處于 TTL 電平時電源電流 (ΔICC) 的增加情況 [對于 ABT VI = 3.4V,ΔICC = 1.5 mA(見 表 2-1)]。當輸入位于閾值區(qū)域時,這變得更加重要,如圖 2-2 所示。
這些特性對于所有 CMOS 輸入電路(包括微處理器和存儲器)而言都是典型特征。
對于 CBT 或 CBTLV 器件,這適用于控制輸入。對于 FB 和 GTL 器件,這僅適用于控制輸入和 TTL 端口。
最小值 | 最大值 | 單位 | |||||
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ΔICC(2) | ABT、AHCT | VCC = 5.5V, | 一個輸入為 3.4V, | 其他輸入電壓為 VCC 或 GND | 1.5 | mA | |
CBT 控制輸入 |
VCC = 5.5V, | 一個輸入為 3.4V, | 其他輸入電壓為 VCC 或 GND | 2.5 | |||
ΔICC(2) | CBTLV 控制輸入 |
VCC = 3.6V, | 一個輸入為 3V, | 其他輸入電壓為 VCC 或 GND | 750 | μA | |
ΔICC(2) | LVC | VCC = 3V 至 3 6V, | 一個輸入處于 VCC – 0.6V, | 其他輸入電壓為 VCC 或 GND | 0.2 | mA | |
LVC、ALVC、LV | 0.5 |
VCC = 5V | TA = 25°C | |
所有 36 個輸入位均從 0V 驅動至 6V |
只要驅動器在傳輸路徑或總線上處于活動狀態(tài),接收器的輸入就始終處于有效狀態(tài)。只要上升和下降時間在數(shù)據(jù)表限制范圍內,就不會違反輸入規(guī)范。但是,當驅動器處于高阻抗狀態(tài)時,接收器輸入不再處于所定義的電平,往往會懸空。當多個收發(fā)器共享同一總線時,這種情況可能會惡化。圖 2-3 是典型總線系統(tǒng)的一個示例。當所有收發(fā)器都處于非活動狀態(tài)時,總線線路電平未定義。當達到由總線上每個元件的泄漏電流所確定的電壓時,這種情況稱為懸空狀態(tài)。結果是功耗會顯著增加,并有損壞總線上所有元件的風險。建議在不使用輸入或 I/O 引腳時,或驅動這些引腳的器件處于高阻抗狀態(tài)時,將其保持在有效的邏輯電平。