ZHCSYL8 July 2025 TPS546B25W
PRODUCTION DATA
控制器內(nèi)核中的遙測(cè)子系統(tǒng)支持測(cè)量以下值：
ADC 輸出是每次測(cè)量的單次轉(zhuǎn)換，不會(huì)進(jìn)行滾動(dòng)窗口期取平均，從而實(shí)現(xiàn)這些關(guān)鍵系統(tǒng)參數(shù)的快速刷新率。所有上述參數(shù)均按順序測(cè)量，而輸出電流的測(cè)量頻率則高于其他參數(shù)。此序列設(shè)計(jì)允許在 95μs 內(nèi)更新每個(gè) IOUT 遙測(cè)值，同時(shí)在 190μs 內(nèi)更新其余的遙測(cè)值。
輸出電壓檢測(cè)遙測(cè)可檢測(cè) VOSNS 至 GOSNS 引腳上的差分電壓。最小 READ_VOUT 值會(huì)被鉗位在 0V。選擇內(nèi)部分壓器后，READ_VOUT 值會(huì)根據(jù)在設(shè)置輸出電壓時(shí)選擇的 VOUT_SCALE_LOOP 值進(jìn)行縮放。
選擇外部分壓器后，ADC 輸入端的 VOUT 根據(jù)所選的 VOUT_SCALE_MONITOR 值在內(nèi)部進(jìn)行縮放，VOUT_SCALE_LOOP 始終設(shè)置為 1。如 VOUT_SCALE_MONITOR 中的表所述，用戶可以根據(jù)預(yù)期的 VOUT 設(shè)置最大化檢測(cè)到的信號(hào)的動(dòng)態(tài)范圍。如果選擇的 VOUT_SCALE_MONITOR 值使得允許的最大 VO
輸出電流檢測(cè)遙測(cè)從提供平均電感器電流的每個(gè)低側(cè) FET 導(dǎo)通時(shí)間自始至終檢測(cè)低側(cè) FET 電流的平均值。為了實(shí)現(xiàn)高精度和寬報(bào)告范圍，該器件會(huì)自動(dòng)設(shè)置電流檢測(cè)增益。READ_IOUT 的值為
其中
芯片溫度檢測(cè)電路可檢測(cè)控制器芯片溫度。功率級(jí) (PS) 芯片實(shí)現(xiàn)了過(guò)熱保護(hù)，并且 PS 芯片溫度不會(huì)通過(guò)遙測(cè)子系統(tǒng)報(bào)告。READ_TEMP1 是以十進(jìn)制形式表示的 PMBus READ_TEMP1 寄存器值。