NESY053A November 2023 – November 2024 BQ79731-Q1 , REF35 , REF70 , TPS62912 , TPS62913 , TPS7A20 , TPS7A94 , TPSM82912 , TPSM82913
雜訊與 ADC
ADC 中的雜訊可能會在精確的電壓量測中造成誤差。您必須考量訊號鏈中來自內(nèi)部及外部來源雜訊的整體影響。總雜訊通常結(jié)合了 ADC 熱雜訊、ADC 量化雜訊、放大器雜訊、電壓參考雜訊及電源雜訊。
方程式 1 描述了 ADC 輸入端 (全刻度電壓下) 量測感測器時的總參考雜訊，如圖 1 所示。主要的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)是將所有雜訊來源最佳化，以實(shí)現(xiàn)應(yīng)用所需的雜訊目標(biāo)。在方程式 1 中，ADC 的電源抑制比 (PSRR) 降低了電源雜訊，繪製為 1MHz：
由於存在不相關(guān)的雜訊來源，因此總雜訊為所有雜訊來源的平方根，這非常有利於最大的雜訊來源。其中一個有雜訊的元件會嚴(yán)重扭曲量測結(jié)果。例如，如果電壓參考比 ADC 和電源產(chǎn)生更大的雜訊，則降低電壓參考上的雜訊將是降低系統(tǒng)雜訊的最佳方法，如圖 2 和圖 3 所示。此外，ADC 雜訊類型會因解析度而異：量化雜訊對 16 位元 ADC 而言相當(dāng)重要，但對 24 位元 ADC 而言則可忽略。
圖 2 電壓參考主要雜訊。
圖 3 ADC 主要熱雜訊。