1 引言

數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)是用包含 1 和 0 的二進(jìn)制表示的數(shù)據(jù)。單個(gè)位錯(cuò)誤是指一個(gè)比特的電荷發(fā)生變化：從 0 變?yōu)?1 時(shí)，反之亦然。產(chǎn)生單個(gè)位錯(cuò)誤的主要原因有兩個(gè)：硬錯(cuò)誤或軟錯(cuò)誤。單個(gè)位硬錯(cuò)誤是由物理因素引起的，如溫度或功率變化，以及對(duì)硬件的壓力。單個(gè)位軟錯(cuò)誤是由某些難以觀察的因素引起的，如磁干擾甚至宇宙射線。翻轉(zhuǎn)的位錯(cuò)誤可能會(huì)對(duì)重要數(shù)據(jù)產(chǎn)生嚴(yán)重影響：它可能會(huì)導(dǎo)致相當(dāng)意外的系統(tǒng)行為，甚至系統(tǒng)崩潰。這就是錯(cuò)誤校正碼 (ECC) 的應(yīng)用領(lǐng)域。ECC 通過自動(dòng)檢測(cè)和校正存儲(chǔ)器錯(cuò)誤來防止數(shù)據(jù)損壞，因此廣泛應(yīng)用于網(wǎng)格基礎(chǔ)設(shè)施、關(guān)鍵任務(wù)、航空航天和國(guó)防或其他具有高價(jià)值數(shù)據(jù)的關(guān)鍵系統(tǒng)。采用 ECC 實(shí)現(xiàn)方案的系統(tǒng)通常比標(biāo)準(zhǔn) RAM 更穩(wěn)定可靠。