ZHCADG8 December 2023 BQ27426 , BQ27427 , BQ27Z561 , BQ27Z746 , BQ28Z610 , BQ34Z100 , BQ40Z50 , BQ40Z80
電壓 + IR 校正通過考慮對電池施加負(fù)載時發(fā)生的 IR 壓降來對電壓相關(guān)性進(jìn)行擴(kuò)展研究。IR 壓降的大小取決于電池的內(nèi)部阻抗、負(fù)載電流量和電池的溫度。
電壓 + IR 校正的缺點是,由于內(nèi)部阻抗增加,因此在測量老化的電池和/或電池暴露于低溫時,這可能會產(chǎn)生更大的誤差。不過,電壓 + IR 校正功能改善了電壓相關(guān)性的一些缺點。SoC 能夠在放電結(jié)束時根據(jù)放電速率和溫度進(jìn)行調(diào)整。