ZHCADG8 December 2023 BQ27426 , BQ27427 , BQ27Z561 , BQ27Z746 , BQ28Z610 , BQ34Z100 , BQ40Z50 , BQ40Z80
7.2 比較 SOC 誤差
測(cè)試 1 的電壓相關(guān)性峰值誤差約為 20%，而測(cè)試 2 的峰值誤差約為 17%。測(cè)試 1 的電壓 + IR 校正峰值誤差約為 11%，而測(cè)試 2 的峰值誤差約為 10%。假設(shè)未獲知 FCC，測(cè)試 1 和 2 的庫(kù)侖計(jì)數(shù)峰值誤差都約為 6%。在后續(xù)周期中，假設(shè)溫度和負(fù)載相似，庫(kù)侖計(jì)數(shù)可能具有低誤差。對(duì)于測(cè)試 1 和 2，Impedance Track 的峰值誤差都約為 1%。
CEDV 精度與庫(kù)侖計(jì)數(shù)器誤差非常相似，因此這些負(fù)載曲線示例的圖形比較中未顯示 CEDV。
圖 7-3 測(cè)試 1 和 2 的電壓相關(guān)性 SOC 誤差
圖 7-4 測(cè)試 1 和 2 的電壓 + IR 校正 SOC 誤差
圖 7-5 測(cè)試 1 和 2 的庫(kù)侖計(jì)數(shù) SOC 誤差
圖 7-6 測(cè)試 1 和 2 的 Impedance Track SOC 誤差