ZHCU410B December 2017 – November 2022
安全狀態(tài)由以下事件觸發(fā)：
驅(qū)動(dòng)狀態(tài)反饋 STO_FB 子系統(tǒng)
STO_FB 信號(hào)為邏輯低電平信號(hào)，用于指示驅(qū)動(dòng)狀態(tài)。高電平信號(hào)（邏輯電平 1）表示正常驅(qū)動(dòng)運(yùn)行，而低電平信號(hào)（邏輯狀態(tài) 0）表示處于安全驅(qū)動(dòng)狀態(tài)。原理圖如圖 2-5 所示。相應(yīng) STO_1 和 STO_2 安全子系統(tǒng)的輸出信號(hào) STO_1_FB 和 STO_2_FB 會(huì)邏輯組合成單個(gè)低電平有效反饋信號(hào) STO_FB 并發(fā)送至隔離式 24V 數(shù)字輸出。表 2-3 中顯示了相應(yīng)的邏輯狀態(tài)。
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輸入 1：STO_1 |
輸入 2：STO_2 |
輸出 1：STO_1_FB |
輸出 2：STO_2_FB |
驅(qū)動(dòng)狀態(tài) |
STO_FB |
注釋 |
|---|---|---|---|---|---|---|
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1 |
1 |
1 |
1 |
正常運(yùn)行 |
1 |
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0 |
0 |
0 |
0 |
安全狀態(tài)（關(guān)閉） |
0 |
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1 |
1 |
0 |
1（卡在高電平故障） |
安全狀態(tài)（關(guān)閉） |
0 |
(1) MCU 已經(jīng)檢測(cè)到子系統(tǒng) STO_2 中的單個(gè)危險(xiǎn)故障（卡在高電平），并已經(jīng)通過(guò) STO_1 子系統(tǒng)觸發(fā)安全狀態(tài)。 |
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1 |
1 |
1（卡在高電平故障） |
0 |
安全狀態(tài)（關(guān)閉） |
0 |
(2) MCU 已經(jīng)檢測(cè)到子系統(tǒng) STO_1 中的單個(gè)危險(xiǎn)故障（卡在高電平），并已經(jīng)通過(guò) STO_2 子系統(tǒng)觸發(fā)安全狀態(tài)。 |
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0 |
0 |
0 |
1 |
安全狀態(tài)（關(guān)閉） |
0 |
之前可能已檢測(cè)到單個(gè)檢測(cè)到的故障，請(qǐng)參閱上一行中的 (1)。 |
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0 |
0 |
1（卡在高電平故障） |
0 |
安全狀態(tài)（關(guān)閉） |
0 |
之前可能已檢測(cè)到單個(gè)檢測(cè)到的故障，請(qǐng)參閱上一行中的 (2)。 |
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0 |
0 |
1（卡在高電平故障） | 1（卡在高電平故障） | 正常運(yùn)行 |
1 |
危險(xiǎn)狀態(tài)，由兩個(gè)危險(xiǎn)故障造成，安全子系統(tǒng) STO_1 和 STO_2 中各有一個(gè)。注意：該系統(tǒng)設(shè)計(jì)為支持單一容錯(cuò) (HFT=1)，而不是允許發(fā)生兩個(gè)故障，每個(gè)子系統(tǒng)各一個(gè)。 |
STO_FB 信號(hào)可以為低電平有效（邏輯狀態(tài) 0），而 STO_1 和 STO_2 均為高電平無(wú)效（邏輯狀態(tài) 1）。當(dāng)診斷 MCU (SIL 1) 在 STO_1 或 STO_2 子系統(tǒng)其中一個(gè)上檢測(cè)到單一危險(xiǎn)故障時(shí)，便會(huì)出現(xiàn)此狀態(tài)。如果發(fā)現(xiàn)短路或卡在高電平，MCU 便會(huì)將診斷脈沖 MCU_Diag_Ctrl_Out1 和 MCU_Diag_Ctrl_Out2 持續(xù)驅(qū)動(dòng)至低電平，以將三相 IGBT 逆變器置于安全狀態(tài)。例如，此狀態(tài)可由外部安全 PLC 用來(lái)識(shí)別 STO_1 或 STO_2 系統(tǒng)中的單一故障并采取適當(dāng)?shù)拇胧０踩?PLC 及相關(guān)行為不在本設(shè)計(jì)的討論范圍內(nèi)。