諸如國際電工委員會(huì) (IEC) 61508(1) 和國際標(biāo)準(zhǔn)化組織 (ISO) 26262(2) 之類的功能安全標(biāo)準(zhǔn)要求半導(dǎo)體器件制造商同時(shí)解決系統(tǒng)性和隨機(jī)硬件故障。通過采用下面的嚴(yán)格開發(fā)流程,可管理和減少系統(tǒng)故障。為了滿足硬件安全完整性等級(jí) (SIL) 或汽車 SIL (ASIL) 要求,隨機(jī)硬件故障必須遵循特定的量化指標(biāo)。因此,在計(jì)算隨機(jī)硬件故障指標(biāo)時(shí)會(huì)排除系統(tǒng)故障。