ZHCABV5 October 2021 DRV5032 , TMAG5170 , TMAG5231 , TMAG5273
5.1 DRV5032 測試設置
第一項測試比較簧片開關和 DRV5032 霍爾效應開關的性能。對于該測試，選擇距離 X 軸每一側的幾個距離用于檢測靈敏度。Z 軸值也發(fā)生變化，以顯示 {Z,Y} 平面中多個測量節(jié)點的靈敏度。該測試集還包括與 {X, Z} 平面上的變化節(jié)點相同的測試過程，以顯示與器件位置相關的靈敏度依賴性。圖 5-1 顯示了用于兩項測試的磁體靠近方式。
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本測試中使用的圓柱形磁體沿著磁體長度方向進行磁化。這會在磁體的中心點產生非常低的磁通值。因此，沿 y 軸的中心點位置不會為 DRV5032 提供有用的測試結果，但為了精確建模，還是添加了該位置。
對于每個相應的節(jié)點坐標（Y 軸、Z 軸），磁體緩慢地移向器件并記錄距離。使用標準卷尺以 1/16 (0.0625) 英寸的精度測量檢測距離。對于 DRV5032，該器件安裝在小型試驗電路板上，由穩(wěn)定的 3.3V 直流電源供電。此外，使用一個 LED 為檢測提供視覺指示。卷尺僅用于在事后從一條遮蔽膠帶上的標記測量到 DRV5032 的距離，在測試期間移除以消除任何金屬影響。圖 5-2 展示了這種情況。
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