選擇 MIL-STD-883H 方法 2026.B 進(jìn)行振動(dòng)比較測(cè)試。該測(cè)試模式讓 DUT 經(jīng)受 7.3g rms 的加速度。圖 4-1 顯示了在實(shí)驗(yàn)中創(chuàng)建的振動(dòng)測(cè)試設(shè)置。固定裝置安裝在振動(dòng)臺(tái)上，然后沿著垂直軸以特定幅度進(jìn)行加速。在 BAW 振蕩器和晶體振蕩器器件上執(zhí)行了三項(xiàng)測(cè)試。與石英振蕩器相比，BAW 振蕩器表現(xiàn)出更好的抗振性。

隨機(jī)振動(dòng)也會(huì)增加振蕩器相位噪聲。測(cè)試硬件會(huì)根據(jù) MIL-STD-883H 中的功率頻譜密度水平，在指定頻率范圍內(nèi)產(chǎn)生隨機(jī)振動(dòng)。由于隨機(jī)振動(dòng)分布在一系列頻率范圍內(nèi)，因此來(lái)自 DUT 的輸出時(shí)鐘的相位噪聲總體上會(huì)增加，而不僅僅是在正弦振動(dòng)測(cè)試中通常觀察到的特定頻率偏移處出現(xiàn)雜散。集成 RMS 相位抖動(dòng)值在 12kHz 至 20MHz 范圍內(nèi)的集成頻帶上進(jìn)行測(cè)量。分別在存在和不存在振動(dòng)的情況下進(jìn)行測(cè)量，并計(jì)算兩種情況之間的 RMS 抖動(dòng)差異，以確定每個(gè) DUT 的振動(dòng)引起的抖動(dòng)。