ZHCACV1 july 2023 LMK6C , LMK6D , LMK6H , LMK6P
3.2.2 隨機(jī)振動測試的結(jié)果
本節(jié)提供了隨機(jī)振動測試之前、期間和之后捕獲的圖，測試按照 MIL-STD-883F 方法 2026C 進(jìn)行。
圖 3-15 和圖 3-16 顯示了 DLE 4 引腳 (LVCMOS) 振蕩器 Z 軸運(yùn)動的捕獲數(shù)據(jù)。
圖 3-15 4 引腳 DLE (LVCMOS) 在振動測試前后的對比圖
圖 3-16 4 引腳 DLE (LVCMOS) 在振動期間的捕獲數(shù)據(jù)圖 3-17 和圖 3-18 顯示了 DLE 6 引腳 (LVPECL) 振蕩器 Z 軸運(yùn)動的捕獲數(shù)據(jù)。
圖 3-17 6 引腳 DLE (LVPECL) 在振動測試前后的對比圖
圖 3-18 6 引腳 DLE (LVPECL) 在振動測試期間的捕獲數(shù)據(jù)前面的圖表明，BAW 振蕩器在振動期間和之后的性能很穩(wěn)定，抖動性能未下降。