LMK6x BAW 振蕩器具有多種用于差分和單端輸出的封裝，請參閱 LMK6x 低抖動高性能 BAW 振蕩器數(shù)據(jù)表，了解有關(guān) BAW 振蕩器封裝選項的更多詳細(xì)信息。

對于此正弦振動測試，選擇了以下型號。

• LVCMOS 輸出：DLE-4 (3.2mm x 2.5mm)，DLF-4 (2.5mm x 2.0mm)
• 差分輸出：DLE-6 (3.2mm x 2.5mm)，DLF-6 (2.5mm x 2.0mm)。BAW 振蕩器具有 LVDS、LVPECL、HCSL 輸出類型。為該測試選擇了 LVPECL 輸出類型振蕩器。

下面是在振動裝置上設(shè)置受測器件 (DUT) 板以及執(zhí)行正弦振動測試所涉及的步驟。

• 器件焊接在 LMK6x 評估模塊 (EVM) 上，并固定到連接到振動試驗臺的接合板。
• Keysight E3631A 工作臺電源設(shè)置為為 EVM 模塊提供 3.3V 電源。
• 對于差分輸出（DLE-6 和 DLF-6 封裝器件），EVM 上提供了 LVPECL 輸出終端。TC1-1-13MA+ 表面貼裝射頻變壓器用于將差分輸出轉(zhuǎn)換為單端輸出，并將輸出連接到 Keysight E5052B 相位噪聲分析儀。
• 使用 VibrationVIEW? 控制軟件，振動頻率在 10g 加速設(shè)置下編程為 50、100、200、500、1000、2000Hz。
• 振動機達到目標(biāo)頻率和強度后，會向 E5052B 相位噪聲分析儀發(fā)出單次觸發(fā)信號。
• 使用相位噪聲分析儀捕獲相位噪聲數(shù)據(jù)，并針對每個振動軸（X、Y 和 Z 軸）收集相位噪聲圖和跟蹤數(shù)據(jù)。
• 使用雜散功率（歸一化模式），根據(jù)以下公式計算頻率偏差：
  方程式 1. $\mathrm{f}\mathrm{m}\_\mathrm{d}\mathrm{e}\mathrm{v}\mathrm{i}\mathrm{a}\mathrm{t}\mathrm{i}\mathrm{o}\mathrm{n}\mathrm{ }=\mathrm{f}\mathrm{m}\_\mathrm{f}\mathrm{r}\mathrm{e}\mathrm{q}\mathrm{u}\mathrm{e}\mathrm{n}\mathrm{c}\mathrm{y}\times {10}^{\left(\frac{6+\mathrm{V}\mathrm{i}\mathrm{b}\_\mathrm{s}\mathrm{p}\mathrm{u}\mathrm{r}\_\mathrm{p}\mathrm{o}\mathrm{W}\mathrm{e}\mathrm{r}(\mathrm{d}\mathrm{B}\mathrm{c}/\mathrm{H}\mathrm{z})}{20}\right)}$

  其中，fm_deviation 是頻率調(diào)制偏差，fm_frequency 是振動頻率。

• 有了頻率偏差，根據(jù)以下公式計算 ppb（十億分率）：
  方程式 2. $\mathrm{p}\mathrm{p}\mathrm{b}={10}^9\times \frac{\mathrm{f}\mathrm{m}\_\mathrm{d}\mathrm{e}\mathrm{v}\mathrm{i}\mathrm{a}\mathrm{t}\mathrm{i}\mathrm{o}\mathrm{n}}{\mathrm{c}\mathrm{a}\mathrm{r}\mathrm{r}\mathrm{i}\mathrm{e}\mathrm{r}\_\mathrm{f}\mathrm{r}\mathrm{e}\mathrm{q}\mathrm{u}\mathrm{e}\mathrm{n}\mathrm{c}\mathrm{y}}$
• 然后，將 ppb 值除以所設(shè)置的 G 力，以計算 ppb/g。