ZHCSTB8 December 2024 TPS546B26
PRODUCTION DATA
控制器內(nèi)核中的遙測子系統(tǒng)支持以下測量：
ADC 輸出是每次測量的單次轉(zhuǎn)換，不會進(jìn)行滾動窗口期取平均，從而實現(xiàn)這些關(guān)鍵系統(tǒng)參數(shù)的快速刷新率。所有上述參數(shù)均按順序測量，而輸出電流的測量頻率則高于其他參數(shù)。此序列設(shè)計允許在 95μs 內(nèi)更新每個 IOUT 遙測值，同時在 190μs 內(nèi)更新其余的遙測值。
輸出電壓檢測遙測可檢測 VOSNS 至 GOSNS 引腳上的差分電壓。最小 READ_VOUT 值會被鉗位在 0V。選擇內(nèi)部分壓器后，READ_VOUT 值會根據(jù)在設(shè)置輸出電壓時選擇的 VOUT_SCALE_LOOP 值進(jìn)行縮放。
選擇外部分壓器后，ADC 輸入端的 VOUT 根據(jù)所選的 VOUT_SCALE_MONITOR 值在內(nèi)部進(jìn)行縮放，VOUT_SCALE_LOOP 始終設(shè)置為 1。如 VOUT_SCALE_MONITOR 中的表所述，用戶可以根據(jù)預(yù)期的 VOUT 設(shè)置最大化檢測到的信號的動態(tài)范圍。如果選擇的 VOUT_SCALE_MONITOR 值使得允許的最大 VO
輸出電流檢測遙測從提供平均電感器電流的每個低側(cè) FET 導(dǎo)通時間自始至終檢測低側(cè) FET 電流的平均值。為了實現(xiàn)高精度和寬報告范圍，該器件會自動設(shè)置電流檢測增益。READ_IOUT 的值為
其中
芯片溫度檢測電路可檢測控制器芯片溫度。功率級 (PS) 芯片實現(xiàn)了過熱保護(hù)，并且 PS 芯片溫度不會通過遙測子系統(tǒng)報告。READ_TEMP1 是以十進(jìn)制形式表示的 PMBus READ_TEMP1 寄存器值。