ZHCSUK3P December 2005 – February 2025 TPS74201
PRODUCTION DATA
使用熱性能信息 表中的熱指標 ψJT 和 ψJB,可以用相應的公式(在方程式 7 中給出)估算結溫。為了實現向后兼容性,還列出了較舊的 θJC,Top 參數。
其中
TT 和 TB 都可以使用實際測溫儀(紅外溫度計)在實際應用板上進行測得。
有關測量 TT 和 TB 的詳細信息,請參閱使用新的熱指標應用手冊(可從 www.ti.com 下載)。
與 θJA 相比,新的熱指標 ψJT 和 ΨJB 與電路板尺寸的關系不大,但也有一定的關系。圖 7-10 展示了 ψJT 和 ψJB 的表征性能與電路板尺寸的關系。
從 圖 7-10 可以看到,RGW 封裝的熱性能對電路板尺寸的依賴性可以忽略不計。但是,KTW 封裝的確與電路板尺寸有一定的關系。之所以存在這種相關性,是因為封裝形狀與 IC 中心不是點對稱。例如,在 KTW 封裝中(請參閱 圖 7-9),器件不在 TT 測量點以下,該測量點是 X 和 Y 維度的中心,因此 ψJT 具有相關性。此外,由于這種非點對稱性,PCB 上的器件熱分布也不是點對稱的,因此 ΨJB 具有相關性。
有關 TI 為何不建議使用 θJC,Top 確定散熱特性的更詳細討論,請參閱使用新的熱指標應用手冊(可從 www.ti.com 下載)。另外,要了解更多信息,請參閱 IC 封裝熱指標應用手冊(也可在 TI 網站上獲?。?。