ZHCAAD4C June   2021  – November 2021 CD4052B , TS3A225E , TS3A44159

1.   商標
2. 1引言
3. 2半導體開關(guān)
   1. 2.1 NMOS 開關(guān)
   2. 2.2 PMOS 開關(guān)
4. 3信號開關(guān)基本結(jié)構(gòu)
   1. 3.1 NMOS 串聯(lián)開關(guān)
   2. 3.2 NMOS/PMOS 并聯(lián)開關(guān)
   3. 3.3 帶有電荷泵的 NMOS 串聯(lián)開關(guān)
5. 4數(shù)字開關(guān)應(yīng)用中的關(guān)鍵問題
   1. 4.1  電源和控制電壓要求
   2. 4.2  軌至軌運行
   3. 4.3  下沖
   4. 4.4  ron
   5. 4.5  Cio(off)
   6. 4.6  Cio(on)
   7. 4.7  Ci（控制輸入電容）
   8. 4.8  泄漏電流
   9. 4.9  啟用和禁用延遲和傳播延遲
   10. 4.10 部分斷電
   11. 4.11 電壓轉(zhuǎn)換
6. 5信號開關(guān)系列
   1. 5.1 CBT-C 系列
      1. 5.1.1 CBT-C 系列特性
         1. 5.1.1.1 VO 和 VI
         2. 5.1.1.2 ron 和 VI
         3. 5.1.1.3 下沖保護
      2. 5.1.2 CBT-C 系列應(yīng)用
         1. 5.1.2.1 總線隔離
   2. 5.2 CBTLV 系列
      1. 5.2.1 CBTLV 系列特性
   3. 5.3 CB3Q 系列
      1. 5.3.1 CB3Q 系列特性
         1. 5.3.1.1 VO 和 VI
         2. 5.3.1.2 ron 和 VI
         3. 5.3.1.3 高頻運行
         4. 5.3.1.4 輸出偏斜
         5. 5.3.1.5 頻率響應(yīng)
         6. 5.3.1.6 相鄰?fù)ǖ来當_
      2. 5.3.2 CB3Q 系列應(yīng)用
         1. 5.3.2.1 USB 應(yīng)用中的多路復(fù)用器
   4. 5.4 CB3T 系列
      1. 5.4.1 CB3T 系列特性
         1. 5.4.1.1 VO 和 VI
         2. 5.4.1.2 ron 和 VI
         3. 5.4.1.3 高頻運行
      2. 5.4.2 CB3T 系列應(yīng)用
         1. 5.4.2.1 筆記本電腦中外部監(jiān)視器終端的電壓轉(zhuǎn)換
7. 6應(yīng)用
   1. 6.1 多路復(fù)用 USB 外圍設(shè)備
   2. 6.2 多路復(fù)用以太網(wǎng)
   3. 6.3 筆記本電腦擴展塢
8. 7結(jié)論
9. 8參考文獻
10. 9修訂歷史記錄
11.   A 測試測量電路
    1.     A.1 ron 測量設(shè)置
    2.     A.2 VO 和 VI 特性的測量設(shè)置
    3.     A.3 電壓-時間波形測量（開關(guān)開啟）
    4.     A.4 電壓-時間波形測量（開關(guān)關(guān)斷）
    5.     A.5 輸出偏斜測量
    6.     A.6 下沖測量的仿真設(shè)置
    7.     A.7 用于衰減測量的實驗室設(shè)置
    8.     A.8 用于關(guān)斷隔離測量的實驗室設(shè)置
    9.     A.9 用于串擾測量的實驗室設(shè)置