ZHCABU4B June 2020 – October 2022 UCC21710-Q1 , UCC21732-Q1 , UCC5870-Q1
SPI 輸入和輸出數(shù)據(jù)完整性以及寄存器數(shù)據(jù)內(nèi)容受到監(jiān)控。這是為了確保正確的數(shù)據(jù)通信和存儲，以設(shè)置驅(qū)動器參數(shù)和功能。
當(dāng) UCC5870-Q1 轉(zhuǎn)換到運行狀態(tài)時，配置和控制寄存器的內(nèi)容受 CRC 引擎保護。使用適當(dāng)?shù)呐渲梦粏⒂门渲?CRC。數(shù)據(jù)表中概述了受 CRC 保護的各種寄存器。CRC 故障檢測每 tCRCCFG（通常為 1ms）執(zhí)行一次。如果計算出的配置寄存器 CRC 校驗和與進入運行狀態(tài)時計算出的 CRC 校驗和不匹配，則會設(shè)置狀態(tài)位，如果未屏蔽，nFLT1輸出會變?yōu)榈碗娖?。此外，對于次級?cè) CRC 失效，驅(qū)動器輸出強制進入配置寄存器中預(yù)定義的狀態(tài)。還提供 CRC 校驗診斷?？梢悦钜粋€控制寄存器來在初級側(cè)或次級側(cè)引起一個 CRC 錯誤。
檢查 SPI 傳輸?shù)?CRC 會隨著 SPI 流量的接收/發(fā)送而持續(xù)更新。每接收到 16 位更新一次 CRC。在這組命令中，配置會更新并與該命令進行比較。
隨著 SPI 數(shù)據(jù)幀的接收，會持續(xù)計算 SDI CRC 校驗和數(shù)據(jù)。一旦 MCU 寫入到 CRC 數(shù)據(jù)傳輸 (TX) 位，這便會觸發(fā) CRC TX 位中的數(shù)據(jù)與內(nèi)部計算出的 CRC 的比較。比較完成后，CRC 計算邏輯被復(fù)位。當(dāng) CRC TX 數(shù)據(jù)和內(nèi)部計算的 CRC 之間存在不匹配時，狀態(tài)位會置位，如果未屏蔽，nFLT1 輸出拉低，并根據(jù)預(yù)配置的寄存器設(shè)置來設(shè)置輸出。
隨著在 SDO 按時鐘輸出數(shù)據(jù)，系統(tǒng)會持續(xù)計算 SDO CRC 校驗和。產(chǎn)生的 CRC 存儲在 CRC 接收 (RX) 數(shù)據(jù)位中。每當(dāng)芯片選擇 nCS 從低電平轉(zhuǎn)換為高電平時，這些位都會更新。讀取 CRC RX 位時，CRC 計算邏輯被復(fù)位。
每次上電后，UCC5870-Q1 都會在初級側(cè)和次級側(cè)的內(nèi)部非易失性存儲器上執(zhí)行 TRIM CRC 檢查。如果計算出的 CRC 校驗和與存儲在內(nèi)部 TRIM 存儲器中的 CRC 校驗和不匹配，則會設(shè)置狀態(tài)位，如果未屏蔽、nFLT1 出會變?yōu)榈碗娖?。此外，對于次級?cè) CRC 失效，驅(qū)動器輸出會強制進入預(yù)定義狀態(tài)。