ZHCSQC1E June 2022 – April 2025 ADC12DJ5200-EP
PRODUCTION DATA
ADC 內(nèi)核可能會(huì)在樣本中產(chǎn)生位誤差,通常稱為代碼誤差 (CER) 或稱為閃碼,這是由不理想的比較器限制引起的元穩(wěn)定性導(dǎo)致的。該器件使用獨(dú)特的 ADC 架構(gòu),與傳統(tǒng)管道、閃存或逐次逼近型寄存器 (SAR) ADC 相比,該架構(gòu)本身能顯著改善代碼誤差率。在等效采樣率下,該器件的代碼誤差率比其他架構(gòu)可實(shí)現(xiàn)的誤差率高出多個(gè)數(shù)量級,從而顯著提高了信號(hào)可靠性。