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ZHCSYH1 June 2025 AFE10004-EP

ADVANCE INFORMATION

封裝選項

請參考 PDF 數(shù)據(jù)表獲取器件具體的封裝圖。

機械數(shù)據(jù) (封裝 | 引腳)

RGE|24

散熱焊盤機械數(shù)據(jù) (封裝 | 引腳)

訂購信息

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6.5.2.2 SPI 幀錯誤檢查

如果在嘈雜的環(huán)境中使用該器件，則可以通過錯誤檢查來檢查該器件和主機處理器之間 SPI 數(shù)據(jù)通信的完整性。通過設置 CRCEN 位可啟用此功能。

錯誤檢查方案基于 CRC-8-ATM (HEC) 多項式：x⁸ + x² + x + 1（即 100000111）。啟用錯誤檢查后，串行接口訪問周期寬度為 32 位。將正常的 24 位 SPI 數(shù)據(jù)發(fā)送到器件之前，主機處理器會在該數(shù)據(jù)后附加一個 8 位 CRC 多項式。表 6-16 顯示了 SPI 錯誤檢查串行接口訪問周期。在所有串行接口讀回操作中，CRC 多項式作為 32 位周期的一部分在 SDO 引腳上輸出。

表 6-16 SPI 錯誤檢查串行接口訪問周期

位	字段	說明
31	R/W	將通信標識為目標寄存器的讀取或?qū)懭朊睢?br>R/W = 0 設置寫入操作。 R/W = 1 設置讀取操作。
30:24	A[6:0]	寄存器地址。指定在讀取或?qū)懭氩僮髌陂g要訪問的寄存器。
23:8	DI[15:0]	數(shù)據(jù)周期位。如果是寫入命令，則數(shù)據(jù)周期位是要寫入地址為 A[6:0] 的寄存器的值。如果是讀取命令，則數(shù)據(jù)周期位為“不用考慮”值。
7:0	CRC	8 位 CRC 多項式。

該器件對 32 位訪問周期進行解碼，以計算 CS 上升沿上的 CRC 余數(shù)。如果不存在錯誤，則 CRC 余數(shù)為零，器件接受數(shù)據(jù)。未通過 CRC 校驗的寫入操作會導致器件忽略數(shù)據(jù)。

在寫入命令之后，應發(fā)送第二個訪問周期，以確定設備狀態(tài)，包括 SDO 引腳上的 CRC 檢查結(jié)果（SPICRC 位）。表 6-17 顯示了 SPI 寫入操作錯誤檢查周期。設置后，應向狀態(tài)寄存器中的 SPICRC 位寫入 1 以清除該位。

表 6-17 SPI 寫入操作錯誤檢查周期

位	字段	說明
31:24	STATUS[7:0]	狀態(tài)寄存器的低八位。
23:8	DO[15:0]	來自上一訪問周期的回波數(shù)據(jù)。
7:0	CRC	計算出的位 31:8 的 CRC 值。

要在 SDO 引腳上獲取請求的數(shù)據(jù)，請采用第二個訪問周期執(zhí)行讀取操作。與寫入操作一樣，器件狀態(tài)位 SDO 引腳上的輸出；另請參閱表 6-18。

表 6-18 SPI 讀取操作錯誤檢查周期

位	字段	說明
31:24	STATUS[7:0]	狀態(tài)寄存器的低八位。
23:8	DO[15:0]	上一訪問周期中請求的回讀數(shù)據(jù)。
7:0	CRC	計算出的位 31:8 的 CRC 值。